歷史沿革

1987

  • 成立台濠貿易有限公司，代理Mitutoyo光學尺.

1993

  • 研發顯示器成功並投入光學尺研發生產.

1997

  • 通過DNN、ENC測試正式取得CE認證.

1999

  • 參與工研院量測中心SPM(掃瞄探針顯微鏡)研發計畫，並取得ISO9002認證.

2000

  • 與工研院技術合作研發高精度投影機及影像量測儀.

2001

  • 與量測中心技術合作研發反射式光學尺.

2002

  • 反射式光學尺技術轉移.

2003

  • 參與量測中心SPM計劃生產AFM(原子力顯微鏡)原型機，導入申請CNLA度量校正實驗室認證.

2004

  • 成功開發CNC影像測量儀.

2005

  • 完成了具有世界先進水平的具有相位補償功能的光柵/磁柵電子細分專用集成塊；同年研製生產了三次元座標測量機，這是一種集精密機械、氣浮、數位化、光電、視頻、自動控制及軟體多種技術於一體的產品.

2006

  • 與工研院技術合作研發高精度白光顯微干涉儀.

2007

  • 主要產品通過歐盟安規CE.

2008

  • 成功研發自動對焦系統，應用在CNC影像測量儀及CNC白光干涉儀.

2009

  • 成功開發高精度白光顯微干涉儀與CNC影像測量儀的自動對焦系統，並生產超大行程影像測量儀，最大量測範圍可達3000x 2000x 200mm.

2024

  • 大視野影像儀，軟硬體發表.
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